基本情報

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中前 幸治

NAKAMAE Kouji


キーワード

集積システム工学

URL

http://www-ise3.ise.eng.osaka-u.ac.jp/member/nakamae.html

所属組織 【 表示 / 非表示

  • 1998年04月01日 ~ 2002年03月31日,工学研究科,助教授,専任

  • 2002年04月01日 ~ 2005年12月31日,情報科学研究科 情報システム工学専攻,助教授,専任

  • 2006年01月01日 ~ 2019年03月31日,情報科学研究科 情報システム工学専攻,教授,専任

  • 2019年04月01日 ~ 継続中,情報科学研究科 情報システム工学専攻,特任教授(常勤),専任

学歴 【 表示 / 非表示

大阪大学 工学部 電子工学科 卒業 1977年03月
大阪大学 工学研究科 電子工学専攻 修了 1979年03月
大阪大学 工学研究科 電子工学専攻 修了 1982年03月

職歴 【 表示 / 非表示

大阪大学助手 1982年04月 ~ 継続中
大阪大学講師 1991年12月 ~ 継続中
大阪大学助教授 1992年12月 ~ 継続中
大阪大学・教授 2006年01月 ~ 継続中

研究内容・専門分野 【 表示 / 非表示

  • 超LSIの設計評価・故障診断に関する研究,信号画像処理に関する研究,超LSI生産システムの評価に関する研究

所属学会 【 表示 / 非表示

  • IEEE

  • 応用物理学会

  • 電子情報通信学会

  • 日本信頼性学会

  • SPIE

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論文 【 表示 / 非表示

  • Temporally- and Spatially- Resolved Observations of Current Filament Dynamics in Insulated Gate Bipolar Transistor Chip during Avalanche Breakdown,Koichi Endo, Koji Nakamae,IEEE Transactions on Device and Materials Reliability,2019年11月,学術論文

  • A quantum watermarking scheme using simple and small-scale quantum circuits,S. Miyake, K. Nakamae,Quantum Inf Process,2016年05月,学術論文

  • Analytical electron microscope based on scanning transmission electron microscope with wavelength dispersive x-ray spectroscopy to realize highly sensitive elemental imaging especially for light elements,M. Koguchi, R. Tsuneta, Y. Anan, and K. Nakamae,Measurement Science and Technology,vol. 28, pp. 015904-1-9, 2016,2016年12月,学術論文

  • A robust SEM auto-focus algorithm using multiple band-pass filters,M. Harada, K. Obara, and K. Nakamae,Measurement Science and Technology,vol. 28, pp. 015403-1-10, 2016,2016年12月,学術論文

  • The combinational or selective usage of the laser SQUID microscope, the non-bias laser terahertz emission microscope, and fault simulations in non-electrical-contact fault localization,Kiyoshi Nikawa, Masatsugu Yamashita, Toru Matsumoto, Katsuyoshi Miura, Yoshihiro Midoh, Koji Nakamae,Microelectronics Reliability,vol. 51, no. 9-11, pp. 1624–1631,2011年10月,http://pdn.sciencedirect.com/science?_ob=MiamiImageURL&_cid=271470&_user=9152734&_pii=S0026271411002599&_check=y&_origin=browse&_zone=rslt_list_item&_coverDate=2011-11-30&wchp=dGLzVBA-zSkWb&md5=78d34811ec6d2cc6b52fdd9ddf73d5ac/1-s2.0-S0026271411002599-main,国際会議(proceedingsあり)

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著書 【 表示 / 非表示

  • その他,LSIテスティングハンドブック,中前幸治、他,オーム社,ISBN,978-4-274-20632-0,2008年11月

  • 専門著書,画像処理の基礎,藤岡 拡、中前幸治,オーム社,ISBN,978-4-274-21609-1,2014年09月

  • 教科書,画像処理の基礎,藤岡 弘、中前幸治,昭晃堂,2002年09月

  • 専門著書,進化する半導体組立・テスト工程,藤岡 弘, 中前幸治, 他,EDリサーチ社,2001年04月

  • 専門著書,走査電子顕微鏡,藤岡 弘, 中前幸治, 他, 大隈正子編,共立出版,2000年06月

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特許・実用新案・意匠 【 表示 / 非表示

  • 日本,緩徐相抽出方法及び眼振データ解析システム,藤岡 弘、中前幸治,4681377(登録),2005年07月,2011年02月

  • 日本,デフォルメ地図の自動生成装置、方法、及びプログラム、並びにナビゲーション機器とサーバ,中前幸治、養安昌彦、養安 准、志智保久、安本慎太郎,特許第4531552(登録),2004年12月,2010年06月

  • 日本,電子プローブ装置の高精度位置決め方法及び装置,裏 克己, 藤岡 弘, 中前幸治, 高嶋 進,特許1661945(登録),1985年11月,1991年04月

  • 日本,強二次電子引き出し電界を持つ二次電子分光装置,裏 克己, 藤岡 弘, 中前幸治, 高嶋 進,特許1617615(登録),1985年11月,1990年08月

  • 日本,二次電子分光装置,裏 克己, 藤岡 弘, 中前幸治,特許1653985(登録),1983年05月,1991年09月

受賞 【 表示 / 非表示

  • 第39回ナノテスティングシンポジウム若手奨励賞,岩本 航,ナノテスティング学会,2019年12月

  • 第42回(2012年度)信頼性・保全性シンポジウム奨励報文賞,山下将嗣, 大谷知行, 松本 徹, 御堂義博, 三浦克介, 中前幸治, 二川清,一般財団法人日本化学技術連盟,2012年07月

 

会議運営 【 表示 / 非表示

  • 国内重要会議,第3回生物計測応用研究会,委員長,2017年07月

  • 国内重要会議,第20回パワーアンドアナログ解析研究会,2017年06月

  • 国内重要会議,第10回先端計測技術研究会 ,委員長,2017年06月

  • 国内重要会議,第10回電子線応用技術研究会 ,委員長,2017年06月

  • 国内重要会議,第19回パワーアンドアナログ解析研究会,2017年03月

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学外運営 【 表示 / 非表示

  • 学会,ナノテスティング学会,会長,2006年06月 ~ 継続中

  • 学会,日本信頼性学会,評議員,2010年05月 ~ 継続中

  • 公益法人,ナノテクノロジ推進機構,理事,2008年06月 ~ 継続中

  • 公益法人,(社)電子情報技術産業協会(JEITA),特別委員,2004年12月 ~ 継続中